具有狀態(tài)監(jiān)測(cè)及故障記錄功能的IGBT驅(qū)動(dòng)電路 681     

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本發(fā)明涉及一種具有狀態(tài)監(jiān)測(cè)及故障記錄功能的IGBT驅(qū)動(dòng)電路，包括邏輯控制模塊、故障監(jiān)測(cè)模塊、光纖接口和電源模塊；邏輯控制模塊包括：邏輯控制電路和門極功率放大電路；故障監(jiān)測(cè)模塊包括故障檢測(cè)電路和信號(hào)處理電路；本發(fā)明將狀態(tài)監(jiān)測(cè)等功能集成到IGBT驅(qū)動(dòng)電路中能夠在第一時(shí)間內(nèi)獲取IGBT的工作狀態(tài)，由若干比較器構(gòu)成的多級(jí)檢測(cè)能夠?qū)崿F(xiàn)IGBT的故障識(shí)別與狀態(tài)監(jiān)測(cè)，并對(duì)退化失效提前做出判斷與警報(bào)，避免因IGBT模塊退化失效導(dǎo)致系統(tǒng)癱瘓，與離線測(cè)試與準(zhǔn)在線測(cè)試相比，操作方便且成本較低；通過邏輯控制芯片對(duì)累計(jì)短路故障次數(shù)進(jìn)行記錄輸出，并實(shí)現(xiàn)芯片掉電數(shù)據(jù)不丟失，為IGBT全壽命周期內(nèi)的剩余壽命預(yù)測(cè)與健康管理提供研究基礎(chǔ)。

基于LM法參數(shù)估計(jì)的繼電保護(hù)裝置壽命預(yù)測(cè)方法 858     

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本發(fā)明提出了一種基于LM法參數(shù)估計(jì)的繼電保護(hù)裝置壽命預(yù)測(cè)方法。本發(fā)明根據(jù)繼電保護(hù)裝置歷史運(yùn)行狀態(tài)信息，統(tǒng)計(jì)繼電保護(hù)裝置的歷史運(yùn)行故障率數(shù)據(jù)；建立威布爾分布模型；建立阿瑞尼爾斯模型；建立基于阿瑞尼爾斯模型和威布爾分布的聯(lián)合失效率模型；利用LM法對(duì)聯(lián)合失效率模型的參數(shù)進(jìn)行估計(jì)，得到估計(jì)形狀參數(shù)和估計(jì)比例常數(shù)；依據(jù)聯(lián)合失效率模型、估計(jì)形狀參數(shù)和估計(jì)比例常數(shù)，通過可靠性公式對(duì)保護(hù)裝置的壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了對(duì)繼電保護(hù)裝置的壽命進(jìn)行準(zhǔn)確預(yù)測(cè)，從而極大的提升了狀態(tài)檢修工作的效率，使得運(yùn)維檢修人員及時(shí)掌握保護(hù)裝置運(yùn)行狀態(tài)，防止設(shè)備出現(xiàn)安全事故，保證供電的安全可靠。

風(fēng)力發(fā)電機(jī)組部件振蕩監(jiān)測(cè)方法 1128     

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本發(fā)明公開了一種風(fēng)力發(fā)電機(jī)組部件振蕩監(jiān)測(cè)方法，屬于兆瓦級(jí)風(fēng)力發(fā)電機(jī)組控制技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括如下步驟：測(cè)量當(dāng)前發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)速???????????????????????????????????????????????；將需要監(jiān)測(cè)部件的頻率?（i=1, 2, 3…m, ?m為需要監(jiān)測(cè)的部件總數(shù)）以及發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)速輸入至帶通濾波器中，得出相應(yīng)發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)速振蕩；將輸入至振蕩幅值檢測(cè)模塊中，計(jì)算出發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)速振蕩幅值；將輸入至故障判斷模塊中，計(jì)算出相應(yīng)的故障碼標(biāo)志位；將輸入至故障處理模塊中，控制機(jī)組保護(hù)停機(jī)并將故障信息顯示出來。本發(fā)明可以根據(jù)發(fā)電機(jī)測(cè)量轉(zhuǎn)速實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)機(jī)組部件的振蕩狀態(tài)，控制機(jī)組保護(hù)停機(jī)并在顯示頻上顯示振蕩異常的部件，提示參數(shù)調(diào)整，避免傳動(dòng)鏈振蕩、部件共振或阻尼器失效引起的部件損壞。

電子鎮(zhèn)流器的燈壽命終止單點(diǎn)感測(cè)、防電弧放電和空載保護(hù) 846     

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披露了系統(tǒng)和方法,所述系統(tǒng)和方法有利于感測(cè)燈處于壽命終止(EOL)階段時(shí)或者燈經(jīng)歷例如燈與其支座之間的觸點(diǎn)受損時(shí)可能出現(xiàn)的電弧放電傳導(dǎo)情形時(shí)燈用鎮(zhèn)流器中的脈沖。通過感測(cè)脈沖,微控制器可基于檢測(cè)到的脈沖寬度區(qū)分EOL和電弧放電情形,并可起動(dòng)適當(dāng)?shù)捻憫?yīng)。例如,如果脈沖由電弧放電現(xiàn)象引起,則微控制器可在重啟燈之前短時(shí)中斷燈的工作,以減少電弧放電情形。如果脈沖由EOL情形引起,則微控制器可將燈置于預(yù)熱或重啟模式以加速燈的失效。在任一情況下,對(duì)感測(cè)脈沖的響應(yīng)均減少可破壞燈座的危險(xiǎn)高燈溫的出現(xiàn)。

晶粒點(diǎn)測(cè)機(jī)探針壓力調(diào)節(jié)裝置 1045     

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本實(shí)用新型公開了一種晶粒點(diǎn)測(cè)機(jī)探針壓力調(diào)節(jié)裝置，涉及半導(dǎo)體檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，包括主體裝置，所述主體裝置的內(nèi)部設(shè)置有輔助臺(tái)，所述輔助臺(tái)的左側(cè)開設(shè)有開口槽，所述開口槽的內(nèi)壁活動(dòng)連接有，所述的右側(cè)固定連接有連接桿，所述連接桿遠(yuǎn)離所述的一端底部固定連接有彈簧，所述彈簧的內(nèi)壁頂端設(shè)置有移動(dòng)塊。本實(shí)用新型通過連接桿、移動(dòng)塊和承接導(dǎo)體塊解決晶粒點(diǎn)測(cè)機(jī)在高速檢測(cè)的過程中，由于探針壓力不易控制，當(dāng)探針壓力過大時(shí)，彈片在高頻形變的情況下容易彈性失效，彈性失效的彈片會(huì)導(dǎo)致探針和LED芯片接觸不良，影響檢測(cè)的問題，再是為了解決傳統(tǒng)探針在更換的時(shí)候，比較麻煩，影響后續(xù)的工作效率的問題，從而設(shè)置了緊固旋鈕。

機(jī)載電氣設(shè)備力學(xué)環(huán)境下在線測(cè)試系統(tǒng) 732     

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本發(fā)明涉及一種新型機(jī)載電氣設(shè)備力學(xué)環(huán)境下在線測(cè)試系統(tǒng)，具體來說，是一種能夠檢測(cè)機(jī)載電氣設(shè)備在力學(xué)環(huán)境中潛在的可逆性失效的在線測(cè)試方法,其包括主控計(jì)算機(jī)、光纖通訊模塊、開關(guān)網(wǎng)絡(luò)模塊、數(shù)據(jù)采集模塊、信號(hào)調(diào)理模塊、測(cè)試接口模塊和測(cè)試供電模塊；對(duì)被測(cè)對(duì)象可逆性失效的檢測(cè)，滿足新的機(jī)載電氣設(shè)備力學(xué)環(huán)境下的測(cè)試要求；可覆蓋多種型號(hào)的被測(cè)機(jī)載電氣設(shè)備，具有高通用性和標(biāo)準(zhǔn)化程度；測(cè)試全程自動(dòng)化大幅度降低了測(cè)試工作量，極大提高了測(cè)試效率。其是一款穩(wěn)定性高、通用性強(qiáng)、可拓展性強(qiáng)、功能豐富、操作便捷、測(cè)試精度高、測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定可靠、性價(jià)比高的新型在線測(cè)試系統(tǒng)。

射頻功率管的測(cè)試方法 630     

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本發(fā)明公開了一種射頻功率管的測(cè)試方法,其包括:烘烤射頻功率管;測(cè)試每一射頻功率管的靜態(tài)阻值;對(duì)每一射頻功率管進(jìn)行無焊接射頻參數(shù)測(cè)試;按配對(duì)電壓和配對(duì)增益,將所述射頻功率管進(jìn)行分類。本發(fā)明提供的射頻功率管的測(cè)試方法,在射頻功率管與PCB焊接前先行檢驗(yàn)功率管阻抗是否符合要求,并按照功率管的增益及閾值開啟電壓進(jìn)行精細(xì)分類,使功率管的參數(shù)更加符合新型DOHERTY功率放大器技術(shù)的需求,充分發(fā)揮功率管性能,提高射頻功率放大器可靠性及穩(wěn)定性,降低功率管的失效率,改善生產(chǎn)過程中的不良率。

半導(dǎo)體制造設(shè)備的軟測(cè)量方法、計(jì)算機(jī)和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì) 954     

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本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體制造設(shè)備的軟測(cè)量方法、計(jì)算機(jī)和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案根據(jù)采集的軟測(cè)量樣本集合和待預(yù)測(cè)參數(shù)(特定的工藝參數(shù)、失效模式或制造缺陷)的實(shí)測(cè)值進(jìn)行建模，建立多個(gè)預(yù)測(cè)模型。然后從多個(gè)預(yù)測(cè)模型中選取一個(gè)作為軟測(cè)量模型，并以傳感器檢測(cè)數(shù)據(jù)作為輸入根據(jù)軟測(cè)量模型對(duì)待預(yù)測(cè)參數(shù)進(jìn)行預(yù)測(cè)。由此，通過為每一種失效模式或制造缺陷建立軟測(cè)量模型，可以自動(dòng)地對(duì)每一種失效模式或制造缺陷進(jìn)行較為準(zhǔn)確的預(yù)測(cè)，減少工程師需要處理的信息量，提高了半導(dǎo)體器件的生產(chǎn)效率。

雙路測(cè)控弱電調(diào)光裝置 822     

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本實(shí)用新型實(shí)施例公開了一種雙路測(cè)控弱電調(diào)光裝置，包括：對(duì)網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)或命令進(jìn)行轉(zhuǎn)換的集成邏輯處理控制單元和與集成邏輯處理控制單元相連接的、根據(jù)轉(zhuǎn)換后的網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)或命令對(duì)負(fù)載光源回路的開關(guān)狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)和控制的、并對(duì)負(fù)載光源進(jìn)行調(diào)節(jié)的檢測(cè)控制輸出單元。本實(shí)用新型的調(diào)光裝置的集成邏輯處理控制單元直接對(duì)接收的網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)或命令進(jìn)行解析，有效的降低了數(shù)據(jù)傳送的失效率和故障率；集成邏輯處理控制單元直接讀取開關(guān)檢測(cè)控制電路反饋的關(guān)于負(fù)載光源回路的開關(guān)狀態(tài)的信號(hào)，有效的提高了響應(yīng)的速度，可保證對(duì)負(fù)載光源回路開關(guān)控制和對(duì)負(fù)載光源進(jìn)行弱電調(diào)節(jié)的同步輸出；另外，增加阻抗匹配模塊可解決遠(yuǎn)距離調(diào)光時(shí)阻抗匹配失效問題。

探針裝置及自動(dòng)調(diào)整探針壓力的晶粒點(diǎn)測(cè)機(jī) 821     

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本實(shí)用新型涉及一種探針裝置及自動(dòng)調(diào)整探針壓力的晶粒點(diǎn)測(cè)機(jī)，包括探針裝置、Z軸自動(dòng)升降裝置和控制器，所述探針裝置包括手動(dòng)位置調(diào)節(jié)組件、壓力傳感器和探針，所述壓力傳感器用于檢測(cè)探針壓力；在整個(gè)LED芯片的檢測(cè)過程中，由于探針壓力通過Z軸自動(dòng)升降裝置調(diào)整并始終保持在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，從而保證了探針和LED芯片的良好接觸，使晶粒點(diǎn)測(cè)機(jī)能夠正常檢測(cè)LED芯片的發(fā)光性能；不會(huì)因?yàn)樘结槈毫^大，導(dǎo)致固定探針的部件發(fā)生形變而使彈性失效，由于無須考慮固定探針的組件因彈性失效而導(dǎo)致的維修問題，因此提高了晶粒點(diǎn)測(cè)機(jī)的穩(wěn)定性，降低了維修成本。

實(shí)用高溫磁場(chǎng)測(cè)量?jī)x 762     

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本發(fā)明實(shí)用高溫磁場(chǎng)測(cè)量?jī)x涉及檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該測(cè)量?jī)x,在原有常溫磁場(chǎng)測(cè)量?jī)x的基礎(chǔ)上,用不影響磁鋼的磁場(chǎng)分布而且導(dǎo)熱較差的材料作為冷卻液體或冷卻氣體的通道,將霍爾探頭置于通道內(nèi),用通道內(nèi)流動(dòng)的冷卻液體或冷卻氣體保護(hù)磁場(chǎng)測(cè)量?jī)x的霍爾探頭的溫度不會(huì)升高而失效或被燒毀,以達(dá)到測(cè)量高溫下磁鋼的磁場(chǎng)強(qiáng)度和溫度系數(shù)的目的。本發(fā)明測(cè)量?jī)x使用方法非常簡(jiǎn)便、實(shí)用,且測(cè)量準(zhǔn)確和經(jīng)濟(jì)實(shí)惠。

集成電路并行測(cè)試方法、裝置和系統(tǒng) 949     

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一種集成電路測(cè)試方法、裝置和系統(tǒng),在共用基底上包含有復(fù)數(shù)個(gè)被測(cè)單元和復(fù)數(shù)個(gè)被測(cè)單元運(yùn)行結(jié)果比較裝置,不同被測(cè)單元執(zhí)行同一輸入激勵(lì),各自產(chǎn)生運(yùn)行結(jié)果,運(yùn)行結(jié)果由相應(yīng)運(yùn)行結(jié)果比較裝置比較,產(chǎn)生比較特征,根據(jù)特征檢測(cè)出失效被測(cè)單元。本發(fā)明能降低測(cè)試成本,縮短形成規(guī)模量產(chǎn)時(shí)間,降低漏測(cè)率。

電纜受熱特性測(cè)試設(shè)備 1099     

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本實(shí)用新型涉及一種電纜受熱特性測(cè)試設(shè)備，包括：信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)采集裝置、加熱裝置、溫度檢測(cè)裝置和電纜固定機(jī)構(gòu)。電纜固定機(jī)構(gòu)用于固定電纜；加熱裝置用于對(duì)電纜進(jìn)行加熱；溫度檢測(cè)裝置用于檢測(cè)電纜的溫度并存儲(chǔ)；信號(hào)發(fā)生器用于電連接電纜的第一端,傳輸檢測(cè)信號(hào)至電纜；信號(hào)采集裝置用于電連接電纜的第二端，采集電纜的輸出信號(hào),并存儲(chǔ)輸出信號(hào)波形數(shù)據(jù)。能夠得到在模擬火災(zāi)的環(huán)境下，電纜的溫度變化數(shù)據(jù)和電纜輸出信號(hào)波形變化數(shù)據(jù)，隨即得到電纜溫度和輸出信號(hào)的對(duì)應(yīng)變化關(guān)系，而且結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，易于操作。試驗(yàn)人員通過對(duì)比電纜輸出信號(hào)與檢測(cè)信號(hào)，可以直觀的判斷電纜的失效，并確定失效時(shí)電纜的溫度。

嵌入式OTP的8位MCU芯片的測(cè)試方法 652     

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本發(fā)明提供了一種嵌入式OTP的8位MCU芯片的測(cè)試方法，屬于晶圓檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。本嵌入式OTP的8位MCU芯片的測(cè)試方法，其特征在于，包括以下步驟：1、利用紫外線UV箱對(duì)含有嵌入式OTP的8位MCU芯片的晶圓做UV擦除，掃除OTP存儲(chǔ)單元的殘留電子；2、利用晶圓測(cè)試機(jī)提供的高壓管腳，將OTP存儲(chǔ)單元以插花方式寫入“0”數(shù)據(jù)，這樣可以檢測(cè)是否存在disturb和diag失效模型；3、利用晶圓測(cè)試機(jī)提供的高壓管腳，將OTP剩余存儲(chǔ)單元全部寫入“0”數(shù)據(jù)，這樣可以檢測(cè)是否存在disturb和diag失效模型。本發(fā)明通用性好，適用所有類型的含有嵌入式OTP的8位MCU芯片的晶圓。

超壓與負(fù)壓防護(hù)裝置監(jiān)測(cè)與報(bào)警系統(tǒng) 844     

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本發(fā)明公開了一種在廂式車輛上使用的能夠?qū)Τ瑝号c負(fù)壓防護(hù)裝置的運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)測(cè)和報(bào)警的超壓與負(fù)壓防護(hù)裝置監(jiān)測(cè)與報(bào)警系統(tǒng)。本發(fā)明超壓與負(fù)壓防護(hù)裝置監(jiān)測(cè)與報(bào)警系統(tǒng)所述系統(tǒng)包括監(jiān)測(cè)控制單元、信號(hào)檢測(cè)單元和聲光報(bào)警單元,監(jiān)測(cè)控制單元將信號(hào)輸送給聲光報(bào)警單元。本發(fā)明對(duì)超壓與負(fù)壓防護(hù)裝置的運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),當(dāng)失效發(fā)生時(shí),能夠立即判別并發(fā)出報(bào)警信號(hào),提示相關(guān)人員采取相應(yīng)措施。本發(fā)明能夠有效避免當(dāng)超壓防護(hù)裝置或負(fù)壓防護(hù)裝置本體及其管道或接口部分發(fā)生泄漏時(shí),由于沒有提示報(bào)警而未采取防護(hù)措施的危險(xiǎn)。

旋轉(zhuǎn)機(jī)械剩余壽命預(yù)測(cè)方法及系統(tǒng) 980     

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本發(fā)明公開了一種旋轉(zhuǎn)機(jī)械剩余壽命預(yù)測(cè)方法及系統(tǒng)，所述預(yù)測(cè)方法的具體步驟為：步驟一：旋轉(zhuǎn)機(jī)械工作過程中將設(shè)備的失效閥值傳輸至直接檢測(cè)數(shù)據(jù)處理中心，直接檢測(cè)數(shù)據(jù)處理中心將不同的失效閥值進(jìn)行統(tǒng)計(jì)；步驟二：旋轉(zhuǎn)機(jī)械工作過程中設(shè)備內(nèi)部的不同傳感器和檢測(cè)儀器將旋轉(zhuǎn)機(jī)械的狀態(tài)和性能反應(yīng)傳輸至間接監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)處理中心，間接監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)處理中心將不同的監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。本發(fā)明綜合運(yùn)用設(shè)備運(yùn)行過程中的性能監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)和運(yùn)行信息，研究具有時(shí)變退化率、隨機(jī)運(yùn)行環(huán)境、健康管理行為影響下設(shè)備的性能退化建模及剩余壽命預(yù)測(cè)方法，定量地揭示時(shí)變退化率、隨機(jī)運(yùn)行環(huán)境、健康管理行為對(duì)剩余壽命預(yù)測(cè)結(jié)果的影響，具有研究問題層面的創(chuàng)新性。

諧波減速器可靠壽命預(yù)測(cè)方法 919     

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本發(fā)明公開了一種諧波減速器可靠壽命預(yù)測(cè)方法，主要包括步驟(1)采集諧波減速器傳動(dòng)精度退化數(shù)據(jù)、步驟(2)生成傳動(dòng)誤差動(dòng)態(tài)曲線、步驟(3)擬合傳動(dòng)精度退化軌跡方程、步驟(4)計(jì)算對(duì)應(yīng)失效閾值的失效壽命、步驟(5)檢驗(yàn)失效壽命所服從的分布以及步驟(6)諧波減速器可靠壽命評(píng)估。本發(fā)明提供了一種簡(jiǎn)單易行，便于實(shí)現(xiàn)的壽命評(píng)估方法，其采集諧波減速器傳動(dòng)精度退化數(shù)據(jù)，可以反映出諧波減速器在轉(zhuǎn)動(dòng)中，由負(fù)載與慣性載荷變化引起的連續(xù)的傳動(dòng)誤差變化，解決靜態(tài)傳動(dòng)誤差檢測(cè)法僅僅只能反映諧波減速器靜止情況下間斷的幾個(gè)點(diǎn)處的傳動(dòng)誤差的缺陷，提高諧波減速器傳動(dòng)誤差檢測(cè)精度，進(jìn)而提高諧波減速器可靠壽命評(píng)估精度。

測(cè)量涂層結(jié)合強(qiáng)度的落墜設(shè)備 667     

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本實(shí)用新型公開了一種測(cè)量涂層結(jié)合強(qiáng)度的落墜設(shè)備，包括：底座、支架、夾持釋放機(jī)構(gòu)、落錘、夾具、壓頭以及聲發(fā)射探測(cè)儀，通過使固定于夾持釋放機(jī)構(gòu)上的落錘而自由下落，撞擊壓頭，誘導(dǎo)涂層失效，并同時(shí)測(cè)量涂層失效時(shí)的聲發(fā)射信號(hào)從而得到涂層的結(jié)合強(qiáng)度。本實(shí)用新型克服了現(xiàn)有壓入法技術(shù)中只能定性評(píng)價(jià)涂層結(jié)合強(qiáng)度的好壞，難以定量或半定量檢測(cè)涂層結(jié)合強(qiáng)度大小的缺陷，采用沖擊式壓入法與聲發(fā)射檢測(cè)技術(shù)相結(jié)合的技術(shù)，利用涂層受載時(shí)產(chǎn)生的聲發(fā)射信號(hào)表征涂層結(jié)合強(qiáng)度，能夠較快速、準(zhǔn)確、高效的測(cè)量出涂層的結(jié)合強(qiáng)度。采用落錘撞擊壓頭的方式對(duì)涂層進(jìn)行沖擊，更易于誘導(dǎo)涂層失效，進(jìn)而提高聲發(fā)射信號(hào)的可靠性，使聲發(fā)射信號(hào)對(duì)涂層結(jié)合強(qiáng)度的表征更加準(zhǔn)確可靠。

交通工具防盜監(jiān)測(cè)系統(tǒng) 920     

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本發(fā)明涉及一種交通工具防盜監(jiān)測(cè)系統(tǒng),包括:防盜系統(tǒng)平臺(tái),用于檢測(cè)防盜終端的工作狀態(tài),以及將報(bào)警信息發(fā)送給用戶終端;移動(dòng)通信網(wǎng)絡(luò),用于提供通信鏈路;防盜終端,具有無線通信接口,通過所述移動(dòng)通信網(wǎng)絡(luò)與防盜系統(tǒng)平臺(tái)進(jìn)行信號(hào)或數(shù)據(jù)交換,當(dāng)所述防盜終端的位置信息變化異常時(shí)向所述防盜系統(tǒng)平臺(tái)發(fā)出報(bào)警信息。本發(fā)明能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)視防盜終端的報(bào)警信息,當(dāng)出現(xiàn)異常時(shí),能夠及時(shí)地對(duì)用戶進(jìn)行提示,以防止交通工具被盜取;本發(fā)明能夠不間斷的監(jiān)測(cè)防盜終端的工作狀態(tài),當(dāng)工作狀態(tài)異常時(shí),能夠及時(shí)的通知用戶進(jìn)行檢查,以防止防盜終端失效;本發(fā)明還能夠?qū)Ψ辣I終端進(jìn)行準(zhǔn)確定位,方便刑偵人員尋找丟失的交通工具。

基于網(wǎng)格區(qū)域密度的適應(yīng)性隨機(jī)測(cè)試用例生成方法 1101     

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本發(fā)明提供了一種基于網(wǎng)格區(qū)域密度的適應(yīng)性隨機(jī)測(cè)試用例生成方法，屬于軟件自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。包括：步驟1，獲得程序的輸入域范圍；步驟2，隨機(jī)產(chǎn)生第一個(gè)測(cè)試用例并執(zhí)行于待測(cè)程序中，檢查是否命中失效區(qū)域；步驟3，移除測(cè)試用例所在區(qū)域；步驟4，通過區(qū)域中心點(diǎn)進(jìn)行網(wǎng)格劃分；步驟5，依據(jù)空白區(qū)域的個(gè)數(shù)，篩選出較好的k個(gè)空白區(qū)域，隨機(jī)產(chǎn)生s*k個(gè)候選用例，從中選取下一個(gè)測(cè)試用例；步驟6，執(zhí)行測(cè)試用例并判斷是否命中失效，若命中則返回已測(cè)用例集大小，否則繼續(xù)執(zhí)行步驟3到步驟5。本方法在保證待測(cè)程序一致的情況下具有更好的失效檢測(cè)效果能力，通過與該領(lǐng)域最經(jīng)典的適應(yīng)性隨機(jī)測(cè)試方法進(jìn)行比較，驗(yàn)證了提出方法的有效性。

用于照明元件測(cè)試的故障保護(hù)電流源 806     

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提供了一種故障保護(hù)電流源，其可以用來在可靠性測(cè)試系統(tǒng)中安全驅(qū)動(dòng)地LED。該電流源包括檢測(cè)在LED可靠性測(cè)試系統(tǒng)中發(fā)現(xiàn)的常見故障的電路和過程。在檢測(cè)到故障之后，該電流源在破壞性尖峰產(chǎn)生之前關(guān)閉驅(qū)動(dòng)器。因?yàn)閮H將真實(shí)LED失效計(jì)數(shù)，所以該故障保護(hù)電流源可以用來構(gòu)造產(chǎn)生更準(zhǔn)確的可靠性測(cè)試數(shù)據(jù)的可靠性測(cè)試系統(tǒng)。

極片元素含量的ICP-OES測(cè)試方法 783     

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本發(fā)明公開了一種極片元素含量的ICP?OES測(cè)試方法，包括以下步驟：先標(biāo)準(zhǔn)溶液的配置：取鋰、鐵和磷標(biāo)準(zhǔn)液分別加入到100ml容量瓶中，用3%稀HNO3定容后，完成標(biāo)準(zhǔn)溶液的配置；然后對(duì)極片進(jìn)行處理，配置測(cè)試溶液；最后ICP測(cè)試，檢測(cè)出鋰、鐵和磷元素的含量。本發(fā)明采用ICP?OES方法測(cè)試極片中各元素含量，以往只是以粉末狀的材料為試樣來檢測(cè)元素含量，而將正極材料制成電池，電池經(jīng)過充放電等循環(huán)過程以后，將電池拆解再進(jìn)行ICP測(cè)試后，可以了解到電池失效后的一些元素含量的變化，進(jìn)而推斷出電池失效的原因，本發(fā)明分別提供了正負(fù)極片的處理方法，測(cè)試過程檢出限低，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠。

自校準(zhǔn)無源互調(diào)測(cè)試儀 635     

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本發(fā)明提供一種自校準(zhǔn)無源互調(diào)測(cè)試儀，其包括：依次連接的信號(hào)放大單元、功率檢測(cè)單元、功率合成單元、低互調(diào)無源單元及接收處理單元，所述信號(hào)放大單元，所述功率合成單元包括3dB電橋及第一負(fù)載，所述低互調(diào)無源單元包括第一低互調(diào)雙工器、第二低互調(diào)雙工器及第二負(fù)載，所述3dB電橋的第一輸入端及第二輸入端連接于功率檢測(cè)單元，所述3dB電橋的第一輸出端連接于第一負(fù)載的輸入端，所述3dB電橋的第二輸出端連接于第一低互調(diào)雙工器的發(fā)射端。本發(fā)明可以滿足移動(dòng)通訊系統(tǒng)中各個(gè)頻段、各個(gè)階次下的測(cè)試需求，同時(shí)保證測(cè)試結(jié)果的可靠性，大大提高了整個(gè)系統(tǒng)的測(cè)試效率，有效降低了失效數(shù)據(jù)的產(chǎn)生。

流體狀態(tài)監(jiān)測(cè)器 928     

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本發(fā)明是一種小型設(shè)備和在工作設(shè)備中以有效方式直接監(jiān)測(cè)工作流體狀態(tài)和液面高度的方法。提供一種包括多個(gè)液體傳感器和多個(gè)蒸汽傳感器的傳感器裝置,在不同溫度下互相結(jié)合使用時(shí),可以全面評(píng)價(jià)流體的氧化降級(jí),液體污染和固體污染以檢測(cè)流體使用壽命的終結(jié)。通過在相同傳感器裝置上提供液體傳感器和蒸汽傳感器,本發(fā)明能夠以小型、有效和經(jīng)濟(jì)可行的方式監(jiān)測(cè)流體的狀態(tài)以及在其他元件損壞和最終設(shè)備失效之前檢測(cè)非正常的工作狀態(tài)。

健康監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的幫助診斷和維護(hù)方法與機(jī)構(gòu) 786     

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本發(fā)明涉及健康監(jiān)測(cè)網(wǎng)絡(luò)的系統(tǒng)和方法,其利用對(duì)動(dòng)態(tài)注冊(cè)傳感器數(shù)據(jù)流的實(shí)時(shí)故障檢查來自動(dòng)檢測(cè)故障或失效傳感器。監(jiān)測(cè)系統(tǒng)和傳感器網(wǎng)絡(luò)可以提供單觸式系統(tǒng)來在傳感器需要注意時(shí)通知用戶,而無需事先了解網(wǎng)絡(luò)中的傳感器的操作特性、安裝方法或配置。網(wǎng)絡(luò)利用決策引擎根據(jù)基于個(gè)人偏好和能力的簡(jiǎn)檔幫助維護(hù)。

在片自測(cè)試自修復(fù)方法 797     

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本發(fā)明屬于集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域,具體為一種能夠在加電工作的情況下不依賴于外部設(shè)備進(jìn)行芯片的自測(cè)試,并能根據(jù)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行自修復(fù)的方法。該方法中的自測(cè)試,可以應(yīng)用于芯片內(nèi)的所有結(jié)構(gòu)和部分;該方法中的自修復(fù),可以應(yīng)用于芯片內(nèi)的所有具有備份單元的結(jié)構(gòu)和部分。基于該方法的自測(cè)試自修復(fù)過程分為兩個(gè)階段:第一階段為測(cè)試、修復(fù)階段,首先進(jìn)行自測(cè)試,根據(jù)測(cè)試結(jié)果使用備份單元來替換失效單元;第二階段為重測(cè)階段,若未檢測(cè)出錯(cuò)誤,則完成在片自測(cè)試自修復(fù),否則產(chǎn)生不可修復(fù)信號(hào),供外部檢測(cè)。本發(fā)明以較低代價(jià)實(shí)現(xiàn)在片自測(cè)試自修復(fù),使用備份單元替換出錯(cuò)部分,提高了芯片的良率和可靠性,也有效地減少了測(cè)試時(shí)間、降低測(cè)試成本。

LED開短路偵測(cè)電路 846     

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本實(shí)用新型提供一種LED開短路偵測(cè)電路，包括LED檢測(cè)模塊電路和CPLD智能模組模塊電路，LED檢測(cè)模塊電路設(shè)有至少一個(gè)驅(qū)動(dòng)芯片，驅(qū)動(dòng)芯片的LED通道測(cè)試端連接LED燈組的陰極，所述驅(qū)動(dòng)芯片的數(shù)據(jù)輸入端輸入開短路偵測(cè)命令信息，所述驅(qū)動(dòng)芯片的數(shù)據(jù)輸出端輸出LED檢測(cè)數(shù)據(jù)；CPLD智能模組模塊電路設(shè)有CPLD數(shù)據(jù)處理芯片和BUFFER緩沖芯片，CPLD數(shù)據(jù)處理芯片的檢測(cè)信號(hào)收集端連接所述驅(qū)動(dòng)芯片的數(shù)據(jù)輸出端，CPLD數(shù)據(jù)處理芯片的開短路檢測(cè)數(shù)據(jù)輸出端連接BUFFER緩沖芯片的緩沖輸入端，緩沖輸出端連接接收卡，接收卡連接發(fā)送卡。本實(shí)用新型解決偵測(cè)使用中的LED顯示屏是否存在LED開短路的問題，實(shí)現(xiàn)隨時(shí)檢測(cè)正在使用中的LED顯示屏是否失效，并準(zhǔn)確定位失效LED的位置，便于維護(hù)人員進(jìn)行維護(hù)。

用于加熱和烹調(diào)裝置的溫度測(cè)量電路 1098     

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一種溫度測(cè)量電路,通過分支電阻將一個(gè)溫度傳感器,比如熱敏電阻,連接到一個(gè)基準(zhǔn)電壓源,比較裝置把所述傳感器連接點(diǎn)的電壓與規(guī)定的電壓作比較,以檢測(cè)所述溫度傳感器所檢測(cè)的值,經(jīng)過簡(jiǎn)化的電路能夠檢測(cè)出所述的溫度傳感器的失效,比如傳感器的斷裂或燒斷。

測(cè)試裝置 678     

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本發(fā)明提供一種以高效率管理測(cè)試結(jié)果為目的的測(cè)試裝置,該測(cè)試裝置包括:測(cè)試被測(cè)試存儲(chǔ)器的各單元的測(cè)試部;對(duì)應(yīng)被測(cè)試存儲(chǔ)器的各單元,在失效存儲(chǔ)器中保存表示該單元好壞的失效信息的失效信息保存部;對(duì)被測(cè)試存儲(chǔ)器具有的每個(gè)塊,計(jì)數(shù)在該塊內(nèi)中被檢測(cè)出的不良單元的數(shù)目的計(jì)數(shù)部;塊接收要求讀出塊所包含的各單元的失效信息的讀出要求接收部;將讀出目標(biāo)塊內(nèi)的不良單元的數(shù)和預(yù)先被確定的基準(zhǔn)數(shù)進(jìn)行比較的比較部;把讀出目標(biāo)塊內(nèi)的不良單元的數(shù)超過基準(zhǔn)數(shù)作為條件,為了對(duì)讀出要求回信,將包含讀出目標(biāo)塊內(nèi)的各單元的失效信息的回信數(shù)據(jù)列中,連續(xù)的復(fù)數(shù)的失效信息轉(zhuǎn)換成表示品質(zhì)不良的值的變換部;以及回信數(shù)據(jù)列壓縮后回信的壓縮部。

用于智能照明系統(tǒng)的電路故障監(jiān)測(cè)電路 1064     

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本實(shí)用新型提供一種用于智能照明系統(tǒng)的電路故障監(jiān)測(cè)電路，包括檢測(cè)模塊電路和智能模組模塊電路，檢測(cè)模塊電路設(shè)有至少一個(gè)驅(qū)動(dòng)芯片，驅(qū)動(dòng)芯片的通道測(cè)試端連接燈組的陰極，所述驅(qū)動(dòng)芯片的數(shù)據(jù)輸入端輸入開短路偵測(cè)命令信息，所述驅(qū)動(dòng)芯片的數(shù)據(jù)輸出端輸出檢測(cè)數(shù)據(jù)；智能模組模塊電路設(shè)有FPGA芯片和OPA2277U芯片，F(xiàn)PGA芯片的檢測(cè)信號(hào)收集端連接所述驅(qū)動(dòng)芯片的數(shù)據(jù)輸出端，F(xiàn)PGA芯片的開短路檢測(cè)數(shù)據(jù)輸出端連接OPA2277U芯片的緩沖輸入端，緩沖輸出端連接接收模塊，接收模塊連接發(fā)送卡，本實(shí)用新型解決偵測(cè)使用中的智能照明系統(tǒng)是否存在開短路的問題，實(shí)現(xiàn)隨時(shí)檢測(cè)正在使用中的智能照明系統(tǒng)是否失效，并準(zhǔn)確定位失效的位置，便于維護(hù)人員進(jìn)行維護(hù)。